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18K、22K金镀层扫描电镜及俄歇电子能谱分析
1
作者
程玉珍
展振宗
+4 位作者
韩瑞安
李望
张之铮
姚荣津
刘广杰
《电镀与精饰》
CAS
1992年第5期24-26,共3页
对使用直流及换向脉冲电源镀得的18K及22K金镀层进行了扫描电镜及俄歇电子能谱分析。结果表明:(1)用两种电源制得的镀层的表面形貌有很大差别,前者平坦,无明显结晶颗粒,后者可出现细卵石状密布颗粒;(2)俄歇成分分析表明,18K金镀层表面...
对使用直流及换向脉冲电源镀得的18K及22K金镀层进行了扫描电镜及俄歇电子能谱分析。结果表明:(1)用两种电源制得的镀层的表面形貌有很大差别,前者平坦,无明显结晶颗粒,后者可出现细卵石状密布颗粒;(2)俄歇成分分析表明,18K金镀层表面有Cd成分偏聚;(3)俄歇深度剖析表明,用两种电源镀得的18K及22K金镀层内,均有成分偏析的微细层次出现。文中,对Cd成分偏聚及微细层次出现的原因做了简要讨论。
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关键词
18K
镀金
22K
扫描电镜
俄歇能谱
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职称材料
题名
18K、22K金镀层扫描电镜及俄歇电子能谱分析
1
作者
程玉珍
展振宗
韩瑞安
李望
张之铮
姚荣津
刘广杰
机构
理化工程研究院
天津手表厂
出处
《电镀与精饰》
CAS
1992年第5期24-26,共3页
文摘
对使用直流及换向脉冲电源镀得的18K及22K金镀层进行了扫描电镜及俄歇电子能谱分析。结果表明:(1)用两种电源制得的镀层的表面形貌有很大差别,前者平坦,无明显结晶颗粒,后者可出现细卵石状密布颗粒;(2)俄歇成分分析表明,18K金镀层表面有Cd成分偏聚;(3)俄歇深度剖析表明,用两种电源镀得的18K及22K金镀层内,均有成分偏析的微细层次出现。文中,对Cd成分偏聚及微细层次出现的原因做了简要讨论。
关键词
18K
镀金
22K
扫描电镜
俄歇能谱
分类号
TQ153.18 [化学工程—电化学工业]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
18K、22K金镀层扫描电镜及俄歇电子能谱分析
程玉珍
展振宗
韩瑞安
李望
张之铮
姚荣津
刘广杰
《电镀与精饰》
CAS
1992
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