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扫描切变力近场光学显微镜研制及应用 被引量:3
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作者 商广义 王琛 +5 位作者 万立骏 杨德亮 白春礼 吴浚翰 雷贺宁 Troyon M 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期229-233,共5页
在发展光纤探针制备和探针与样品近场间距非光学控制等关键技术基础上 ,我们研制成能与倒置光学显微镜联合使用的扫描切变力 /近场光学显微镜 ,并具有反射和透射等工作模式以及能在溶液环境中工作。利用这套系统 ,获得了多种样品的表面... 在发展光纤探针制备和探针与样品近场间距非光学控制等关键技术基础上 ,我们研制成能与倒置光学显微镜联合使用的扫描切变力 /近场光学显微镜 ,并具有反射和透射等工作模式以及能在溶液环境中工作。利用这套系统 ,获得了多种样品的表面形貌和近场光学图像以及细胞内的荧光光谱。 展开更多
关键词 光学显微镜 扫描切变力/近场光学显微镜 光纤探针 非光学控制 衍射效应 近场间距控制
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溶液环境中工作的扫描近场光学/荧光光谱显微术 被引量:2
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作者 商广义 朱传凤 +7 位作者 王琛 万立骏 白春礼 Lei F H M Troyon H Morjani J F Angiboust M Manfait 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第5期433-437,共5页
我们采用双压电陶瓷片发展了一种切变力非光学检测探针-样品间距控制方法。基于这种方法,研制成能与倒置光学显微镜联合使用的扫描近场光学 荧光光谱显微系统,实现了在溶液环境中探针-样品间距的可靠控制和成像,获得了人体乳腺癌细胞内... 我们采用双压电陶瓷片发展了一种切变力非光学检测探针-样品间距控制方法。基于这种方法,研制成能与倒置光学显微镜联合使用的扫描近场光学 荧光光谱显微系统,实现了在溶液环境中探针-样品间距的可靠控制和成像,获得了人体乳腺癌细胞内的近场荧光光谱。本文简要介绍该系统的工作原理以及利用该系统得到的实验结果。 展开更多
关键词 扫描近场光学显微术 切变力检测 荧光光谱
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一种能与SEM联合应用的STM 被引量:1
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作者 商广义 贺节 +2 位作者 姚骏恩 吴杏芳 杨楠 《电子显微学报》 CAS CSCD 1994年第6期515-515,共1页
一种能与SEM联合应用的STM商广义,贺节,姚骏恩,吴杏芳,杨楠(中科院北京电子显微镜实验室,北京100080)(北京科技大学金属物理系)扫描隧道显微镜(STM)是一种具有原子分辨率并能在真空,大气等不同环境下工作的... 一种能与SEM联合应用的STM商广义,贺节,姚骏恩,吴杏芳,杨楠(中科院北京电子显微镜实验室,北京100080)(北京科技大学金属物理系)扫描隧道显微镜(STM)是一种具有原子分辨率并能在真空,大气等不同环境下工作的新型表面分析仪器。在物理、化学、材... 展开更多
关键词 电子显微镜 SEM STM 联合应用
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弹道电子发射显微术
4
作者 商广义 裘晓辉 +1 位作者 王琛 白春礼 《电子显微学报》 CAS CSCD 1997年第6期789-790,共2页
本文简单介绍了弹道电子发射显微镜(BEEM)的原理和应用,并给出了用自行研制的BEEM设备得到的一些实验结果。
关键词 弹道 BEEM STM 电子发射显微镜 电子发射显微术
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多种形貌纳米银的电化学制备及其表面增强拉曼光谱研究 被引量:15
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作者 李德伟 蔡微 +2 位作者 商广义 朱传凤 姚骏恩 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期33-38,共6页
采用电化学沉积的方法制备出球状、棒状、树枝状、立方体状、带孔洞的多面体状的纳米银。扫描电镜的显微观察结果显示,沉积电压不仅影响纳米银的尺寸大小而且对形貌也有重要影响。通过对球状和树枝状纳米银进行的表面增强拉曼光谱(surfa... 采用电化学沉积的方法制备出球状、棒状、树枝状、立方体状、带孔洞的多面体状的纳米银。扫描电镜的显微观察结果显示,沉积电压不仅影响纳米银的尺寸大小而且对形貌也有重要影响。通过对球状和树枝状纳米银进行的表面增强拉曼光谱(surface-enhanced raman scattering,SERS)的应用研究表明,用电化学沉积法制备的纳米银有很好的SERS特性,作为SERS基底可探测出浓度为10-16 mol/L的罗丹明6G。 展开更多
关键词 电化学沉积 纳米银 沉积电压 扫描电镜(SEM) 表面增强拉曼散射(SERS)
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透射电子显微镜单色器的发展及应用 被引量:7
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作者 周瑜升 王荣明 +1 位作者 商广义 姚骏恩 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第1期82-92,共11页
自1932年透射电子显微镜发明以来,透射电子显微学在基础理论、仪器研制及其在材料科学、生命科学等领域的应用得到了迅速发展,200kV场发射枪透射电子显微镜的点分辨率已达0.19~0.25nm,能量分辨率为0.7~1.0eV。进一步提高透射电子显微... 自1932年透射电子显微镜发明以来,透射电子显微学在基础理论、仪器研制及其在材料科学、生命科学等领域的应用得到了迅速发展,200kV场发射枪透射电子显微镜的点分辨率已达0.19~0.25nm,能量分辨率为0.7~1.0eV。进一步提高透射电子显微镜性能的关键在于降低物镜球差和电子束能量扩散等。球差校正器的发明使透射电镜的点分辨率已突破0.1nm,电子源色差已成为进一步提高电子显微镜信息分辨极限和电子能量损失谱能量分辨率的瓶颈。在场发射枪透射电子显微镜上增加单色器(能量过滤器)可有效降低电子束的能量色散,减小色差对电子显微镜性能的影响。本文介绍了Wien型、Ω型及Mandoline型等几种常见的能量过滤器的工作原理、结构、性能及其应用。 展开更多
关键词 透射电子显微镜 单色器 能量分辨率 点分辨率 信息分辨极限
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一种纳米分辨率近场光学显微镜——光子扫描隧道显微镜 被引量:6
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作者 姚骏恩 吴世法 +7 位作者 高崧 郭宁 商广义 初世超 贺节 夏德宽 李成基 徐绍华 《电子显微学报》 CAS CSCD 1997年第3期223-228,共6页
报导了我们研制的一台光子扫描隧道显微镜。论述了原理,结构,光纤探针制造,信号放大以及调试中解决的几个技术问题等。图像的横向分辨率优于10nm,纵向分辨率约1nm,扫描范围10μm×10μm。还观察了云母。
关键词 近场光学显微镜 光子扫描隧道 显微镜
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光学高分子薄膜纳米结构与性能关系的探讨 被引量:1
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作者 朱传凤 韩梅娟 +4 位作者 商广义 万立骏 沈玉全 邱玲 郝聚民 《微纳电子技术》 CAS 2005年第6期249-258,共10页
应用AFM及力曲线的统计方法(forcecurvemethod)和Tapping/Phase功能,比较系统地研究了Glass/ITO基底上旋涂厚度为5μm的非线性光学功能高分子薄膜。结果发现,不同基底对于薄膜结构及分子构象没有明显影响。客体分子(molecule-2)在常温... 应用AFM及力曲线的统计方法(forcecurvemethod)和Tapping/Phase功能,比较系统地研究了Glass/ITO基底上旋涂厚度为5μm的非线性光学功能高分子薄膜。结果发现,不同基底对于薄膜结构及分子构象没有明显影响。客体分子(molecule-2)在常温条件下能够以氢键的方式镶嵌在主体高分子(molecule-1)链上的—OH官能团周围和相邻的分子链间,形成特征的纳米级带状结构。ITO基底上非线性光学功能高分子薄膜在160~180℃条件下和经3000V强电场极化后,客体分子和主体高分子不同程度地进行了化学交联反应,生成新的非线性光学高分子;薄膜的微观结构由常温时的带状结构变为纳米环状结构,膜表面呈现出均匀平滑的表面形貌,并获得了理想的电光性能信号。分子键合类型的变化使得薄膜的组分发生了变化,并引起了薄膜的微观结构的改变。力曲线的统计方法和Phase的相关信息为此提供了重要证据。 展开更多
关键词 高分子薄膜 性能关系 纳米结构 Phase 统计方法 光学功能 客体分子 带状结构 微观结构 非线性光学 分子构象 薄膜结构 常温条件 形成特征 电场极化 交联反应 环状结构 表面形貌 表面呈现 电光性能 相关信息 力曲线 ITO
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原子力显微镜图像小波去噪方法的研究 被引量:1
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作者 徐立军 李松云 +2 位作者 龚立艳 商广义 姚骏恩 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期135-140,共6页
将小波阈值收缩去噪技术应用于原子力显微镜图像处理中,着重对阈值确定过程中阈值修正算法及阈值函数选取进行了讨论,对比了各种方法的优缺点,针对噪声较大的原子力显微镜图像,提出一种改进的修正阈值滤波方法,并给出了具体算法。采用... 将小波阈值收缩去噪技术应用于原子力显微镜图像处理中,着重对阈值确定过程中阈值修正算法及阈值函数选取进行了讨论,对比了各种方法的优缺点,针对噪声较大的原子力显微镜图像,提出一种改进的修正阈值滤波方法,并给出了具体算法。采用原子力显微镜扫描的光盘膜图像对所提算法进行了实验研究,对采用不同阈值及阈值函数获得的结果进行了对比。该结果验证了所提方法的有效性。 展开更多
关键词 小波变换 原子力显微镜 数字图像处理 噪声 方差估计
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YBa_2Cu_3O_7/PrBa_2Cu_3O_7/SrTiO_3超薄膜表面螺旋位错的研究
10
作者 朱传凤 王琛 +6 位作者 杨林静 商广义 李建伟 李清 赵伯儒 郑丽珍 孙吉军 《电子显微学报》 CAS CSCD 1997年第6期773-775,共3页
本文报道用原子力显微镜(AFM)研究的几种(YBCO)超薄膜的表面结构,这些膜分别生长在SrTiO3(100)基底,和具有厚度为40nm的PrBa2Cu3O7缓冲层的SrTiO3基底上,YBCO超薄膜厚度范围为2.5... 本文报道用原子力显微镜(AFM)研究的几种(YBCO)超薄膜的表面结构,这些膜分别生长在SrTiO3(100)基底,和具有厚度为40nm的PrBa2Cu3O7缓冲层的SrTiO3基底上,YBCO超薄膜厚度范围为2.5nm—25nm。在2.5nm厚的单层膜表面观察到了岛状结构,并在7.5nm厚的超薄膜表面首次观察到了台阶高度不同的三种螺旋位错。同时还讨论了YBCO超薄膜的生长机理。 展开更多
关键词 超薄膜 YBCO 超导材料 STM AFM
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弹道电子发射显微镜的研制及对金属/半导体界面的探测
11
作者 白春礼 郭仪 +3 位作者 樊天申 商广义 戴长春 沈德芳 《电子显微学报》 CAS CSCD 1996年第1期75-80,共6页
本文报告了自行研制的弹道电子发射显微镜(BEEM)的基本工作原理、结构以及几个关键技术问题。给出了用这台仪器得到的Au/n-Si(100)和Au/n-GaAs(100)样品的BEEM谱、表面形貌像以及界面图像,并对实验结果进行了解释。
关键词 弹道 电子发射显微镜 界面 研制
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石墨表面纳米结构的截面特征分析
12
作者 王琛 白春礼 +5 位作者 李晓冬 商广义 裘晓辉 汪振霞 王乃新 方晔 《电子显微学报》 CAS CSCD 1997年第6期779-781,共3页
我们以在高定向裂解石墨表面获得的纳米结构为例,对利用电子束方法和加热氧化方法制备的纳米结构的特征进行了对比分析,并结合材料的输运性质探讨纳米结构的加工机制。
关键词 石墨 表面纳米结构 截面
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光子扫描隧道显微镜(PSTM)的研制及样品的显微成像研究
13
作者 郭宁 吴世法 +7 位作者 夏德宽 初世超 徐绍华 高崧 姚骏恩 商广义 贺节 李成基 《量子电子学》 CSCD 1994年第2期70-71,共2页
光子扫描隧道显微镜(PSTM)的研制及样品的显微成像研究郭宁,吴世法,夏德宽,初世超,徐绍华(大连理工大学,大连116023)高崧,姚骏恩,商广义,贺节,李成基(中国科学院科仪中心电镜室,北京100080)光子扫描遂... 光子扫描隧道显微镜(PSTM)的研制及样品的显微成像研究郭宁,吴世法,夏德宽,初世超,徐绍华(大连理工大学,大连116023)高崧,姚骏恩,商广义,贺节,李成基(中国科学院科仪中心电镜室,北京100080)光子扫描遂道显微镜(PSTM)是继1986年... 展开更多
关键词 PSTM 研制 样品 显微成像
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大范围高分辨扫描隧道显微镜的研究
14
作者 姚骏恩 商广义 贺节 《电子显微学报》 CAS CSCD 1990年第3期248-248,共1页
八十年代初问世的扫描隧道显微镜Scanning Tunneling Micrdscope(简称STM)是一种新型表面观测仪器。在三维空间都达到原子分辨率,对样品无任何破坏性以及可在超高真空、大气甚至液体中工作等独特优点使其在短短几年里得到了飞速发展并... 八十年代初问世的扫描隧道显微镜Scanning Tunneling Micrdscope(简称STM)是一种新型表面观测仪器。在三维空间都达到原子分辨率,对样品无任何破坏性以及可在超高真空、大气甚至液体中工作等独特优点使其在短短几年里得到了飞速发展并获得了广泛应用。。为进一步提高STM性能,扩大应用领域,本文将讨论一种大范围高分辨扫描隧道显微镜。分辨率和扫描范围是衡量STM性能的两个主要技术指标。目前绝大多数具有原子分辨率的STM,最大扫描范围局限在1微米左右,主要用于原子或纳米尺度下观察结构均匀的材料表面。但是,实际应用中存在的以下几个问题显露了现有STM扫描范围小的不足以及研制大范围高分辨STM的必要。第一。 展开更多
关键词 扫描 隧道显微镜 STM
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聚焦离子束在光纤探针制备技术中的应用 被引量:3
15
作者 魏恩浩 徐平 +2 位作者 王荣明 商广义 姚骏恩 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第6期595-599,共5页
本文概述了利用聚焦离子束制备用于近场光学显微镜光纤探针的方法,讨论了探针的锥型刻蚀、孔径控制和特殊结构加工等;论述了聚焦离子束的工作原理和在光纤探针高精度加工方面的优势。利用此技术制备的光纤探针的锥型和针尖孔径精确可控... 本文概述了利用聚焦离子束制备用于近场光学显微镜光纤探针的方法,讨论了探针的锥型刻蚀、孔径控制和特殊结构加工等;论述了聚焦离子束的工作原理和在光纤探针高精度加工方面的优势。利用此技术制备的光纤探针的锥型和针尖孔径精确可控,并具有高光洁度,高通光效率等特点。 展开更多
关键词 聚焦离子束 刻蚀 光纤探针 针尖孔径 通光效率
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高速原子力显微术研究进展 被引量:3
16
作者 赵剑勇 蔡微 商广义 《电子显微学报》 CAS CSCD 2013年第1期81-89,共9页
自1986年发明原子力显微镜以来,它已成为材料、生物以及纳米科技等许多领域的重要工具。由于常规原子力显微镜成像速度缓慢,在动态过程观测、工业生产线原位测量以及高密度信息存储等领域的应用受到限制,因此发展高速原子力显微术近年... 自1986年发明原子力显微镜以来,它已成为材料、生物以及纳米科技等许多领域的重要工具。由于常规原子力显微镜成像速度缓慢,在动态过程观测、工业生产线原位测量以及高密度信息存储等领域的应用受到限制,因此发展高速原子力显微术近年来已引起国内外的高度关注。本文综述了高速原子力显微术关键技术(包括:微小探针、高速扫描器设计和控制方法)以及应用等方面的最近进展。 展开更多
关键词 原子力显微镜 高速原子力显微成像 动态过程观测
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双模原子力显微术的纳米力学测量原理及其应用 被引量:5
17
作者 毕篆芳 商广义 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2019年第6期689-696,共8页
在纳米尺度上定量测量材料的力学性质已成为纳米科技领域的研究热点和挑战性课题。原子力显微术(AFM)是扫描探针显微术家族中的重要成员,在纳米表征中发挥了重要作用。本文着重介绍了双模AFM,尤其是调幅-调频成像模式的纳米力学测量原... 在纳米尺度上定量测量材料的力学性质已成为纳米科技领域的研究热点和挑战性课题。原子力显微术(AFM)是扫描探针显微术家族中的重要成员,在纳米表征中发挥了重要作用。本文着重介绍了双模AFM,尤其是调幅-调频成像模式的纳米力学测量原理、实验方法及其优势,并展示了在生物、低维材料以及锂离子电池电极材料研究中应用的典型实例。 展开更多
关键词 双模原子力显微术 纳米测量 力学性质 锂离子电池电极
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脉冲宽度导致的石墨表面纳米结构尺度变化的STM观察
18
作者 吴际 王琛 +3 位作者 裘晓辉 商广义 王乃新 白春礼 《电子显微学报》 CAS CSCD 1999年第1期61-64,共4页
材料表面进行的纳米加工探索已经成为研究纳米尺度上的物理和化学现象的重要途径。大量实验数据表明,利用STM进行的表面纳米加工过程是同时受到强电场和高电流密度的作用而诱导的局部氧化或聚合反应等。在此,我们以石墨表面的纳米... 材料表面进行的纳米加工探索已经成为研究纳米尺度上的物理和化学现象的重要途径。大量实验数据表明,利用STM进行的表面纳米加工过程是同时受到强电场和高电流密度的作用而诱导的局部氧化或聚合反应等。在此,我们以石墨表面的纳米加工为例,发现在相似的实验条件下,纳米下陷结构的深度随加工脉冲时间的增长而显著增加,而该结构的表面直径变化则相对较小。 展开更多
关键词 纳米加工 石墨表面 STM 脉冲宽度
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对BiTeSe的隧道扫描显微镜观察
19
作者 何良 褚一鸣 +5 位作者 李成基 陈廷杰 贺节 商广义 姚骏恩 魏骏 《电子显微学报》 CAS CSCD 1990年第3期138-138,共1页
扫描隧道显微镜(术)STM,使得以原子尺度的分辨率对物质表面进行实空间,实时的观察成为可能。碲化铋为层状晶体,属三角晶系,空间群为D_(3d)~5(R_(3m)^-)。它的每一层内包含五个原子亚层,其顺序是T_e—Bi—T_e—Bi—T_e。Bi原子与其周围... 扫描隧道显微镜(术)STM,使得以原子尺度的分辨率对物质表面进行实空间,实时的观察成为可能。碲化铋为层状晶体,属三角晶系,空间群为D_(3d)~5(R_(3m)^-)。它的每一层内包含五个原子亚层,其顺序是T_e—Bi—T_e—Bi—T_e。Bi原子与其周围的Te原子是八面体配位。两层的T_e原子之间主要是范德瓦尔斯力。解理就在此发生。可望解理面在大气中比较稳定,有可能在非真空条件下看到原子象。我们的样品是n型Bi_2Te_(2.79)Se_(0.21),由半导体所致冷组制备。Bi_2Se_3和Bi_2Te_3结构相同,晶格常数相近。 展开更多
关键词 BiTeSe 隧道显微镜 电子扫描 STM
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激光原子力显微镜及其对光学材料表面的观察
20
作者 钱建强 高崧 +4 位作者 于劲 李成基 商广义 贺节 姚骏恩 《电子显微学报》 CAS CSCD 1993年第2期198-198,共1页
自1985年Binnig等人发明第一台原子力显微镜以来(简称AFM),AFM得到了迅速发展。它利用力敏感元件微悬臂的尖端作为探针,当针尖与样品非常接近时,它们之间的原子斥力使微悬臂发生偏转,用电学或光学的方法将这一偏转探测出来,送入一反馈装... 自1985年Binnig等人发明第一台原子力显微镜以来(简称AFM),AFM得到了迅速发展。它利用力敏感元件微悬臂的尖端作为探针,当针尖与样品非常接近时,它们之间的原子斥力使微悬臂发生偏转,用电学或光学的方法将这一偏转探测出来,送入一反馈装置,该反馈装置调节样品的高度,以使微悬臂偏转程度不变,当样品对微悬臂扫描时,便可得到样品表面图像。 展开更多
关键词 激光 原子力显微镜 光学材料
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