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纳米阻抗显微镜的研制及商品化
1
作者
丁喜冬
关景新
+1 位作者
黄龙飞
吴浚瀚
《材料工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第10期165-168,172,共5页
纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用;但其应用目前仅局限于实验室范围,而国内尚未有纳米阻抗显微镜研究的文献报道。本文主要...
纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用;但其应用目前仅局限于实验室范围,而国内尚未有纳米阻抗显微镜研究的文献报道。本文主要介绍纳米阻抗显微镜的基本原理及其仪器的研制。以国内外现有的扫描探针显微镜仪器为基础,研制出了两套不同的纳米阻抗显微镜样机,并率先实现了这种技术的商品化,还利用该技术开展了氧化锌多晶陶瓷材料的应用研究。
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关键词
纳米阻抗
扫描探针显微镜
商品化
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职称材料
题名
纳米阻抗显微镜的研制及商品化
1
作者
丁喜冬
关景新
黄龙飞
吴浚瀚
机构
中山大学物理科学与工程技术学院
本原纳米仪器有限公司
出处
《材料工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第10期165-168,172,共5页
基金
广州市科技攻关项目(2006Z3-D2071)
文摘
纳米阻抗显微镜(Nanoscale impedance microscopy,NIM)能够测量材料表面的纳米微区阻抗性质,已经成为纳米材料表征的重要工具,得到越来越多的应用;但其应用目前仅局限于实验室范围,而国内尚未有纳米阻抗显微镜研究的文献报道。本文主要介绍纳米阻抗显微镜的基本原理及其仪器的研制。以国内外现有的扫描探针显微镜仪器为基础,研制出了两套不同的纳米阻抗显微镜样机,并率先实现了这种技术的商品化,还利用该技术开展了氧化锌多晶陶瓷材料的应用研究。
关键词
纳米阻抗
扫描探针显微镜
商品化
Keywords
nanoscale impedance
scanning probe microscopy
commercialization
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
纳米阻抗显微镜的研制及商品化
丁喜冬
关景新
黄龙飞
吴浚瀚
《材料工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
0
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