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用高分辨率双晶X-射线荧光法进行材料的状态研究被引量：2: 1; 作者齐文启宋子台合志阳一《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1989年第2期76-80,共5页; 一、前言近年来,随着各种新型功能材料的研制,对新检测技术开发的要求愈加强烈。这种检测技术在不破坏样品的前提下,不但能测定出材料中成分的含量,而且要求能够知道其分布特征及存在状态。为了适应这种新型材料科学发展的需要。; 关键词状态研究 X射线荧光法材料; 在线阅读下载PDF 职称材料

利用光声效应进行材料无损分析的最新进展被引量：1: 2; 作者齐文启泽田嗣郎合志阳一《分析测试通报》 CSCD 1989年第1期65-68,共4页; 一、前言近年来,随着各种新型功能材料的研制,要求对这些材料进行无损、无接触检测,就可了解其中微量杂质及其存在状态的呼声日趋强烈。根据这些要求,笔者就光声光谱(PAS)的应用进行了检测技术的开发研究。物质吸收光能以后,不产生发光... 展开更多; 关键词光声效应材料无损分析光声光谱; 在线阅读下载PDF 职称材料

火花源质谱法测定高纯稀土氧化物中的痕量稀土杂质被引量：2: 3; 作者史广昭小仓哲志 +1 位作者野泽明义合志阳一《质谱学报》 EI CAS CSCD 1991年第1期79-85,共7页; 本工作用火花源质谱法研究了高纯稀土氧化物(Y_2O_3、Eu_2O_3、Tb_4O_7)中痕量稀土杂质的定量分析方法,检测下限为O.06～0.6ppm。本研究还用理论相对灵敏度因子计算了稀土杂质的含量,结果与由实验相对灵敏度因子求得值基本吻合。; 关键词火花源质谱法稀土氧化物稀土杂质; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	用高分辨率双晶X-射线荧光法进行材料的状态研究	齐文启宋子台合志阳一	《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心	1989	2	在线阅读下载PDF 职称材料
2	利用光声效应进行材料无损分析的最新进展	齐文启泽田嗣郎合志阳一	《分析测试通报》 CSCD	1989	1	在线阅读下载PDF 职称材料
3	火花源质谱法测定高纯稀土氧化物中的痕量稀土杂质	史广昭小仓哲志野泽明义合志阳一	《质谱学报》 EI CAS CSCD	1991	2	在线阅读下载PDF 职称材料