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题名热压法制备Bi_2Te_3基热电材料的组织与性能
被引量：11
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作者
卢波辉
赵新兵
倪华良
吉晓华
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机构
浙江大学硅材料国家重点实验室
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出处
《兵器材料科学与工程》
CAS
CSCD
2004年第3期13-16,共4页
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基金
国家自然科学基金(50171064)
"863计划"(2002AA302406)资助
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文摘
采用真空单轴热压(HUP)方法制备了Bi_2Te_3基热电材料。结果表明,HUP试样的密度在原始区熔材料的97％以上。所有HUP试样的剪切强度都在21MPa以上,与区熔Bi_2Te_3基材料(001)解理面的强度相比,提高4倍左右。电学性能测试发现,HUP试样的电学性能低于区熔试样,其原因被认为主要是由于在材料粉碎和热压过程中,有效载流子浓度发生了变化。实验发现,相对于区熔试样,p型HUP试样的最佳工作温度向低温方向偏移,而n型HUP试样的最佳工作温度向高温方向移动。
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关键词
真空单轴热压
基热电材料
BI2TE3
组织
性能
半导体材料
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Keywords
semiconductor material
thermoelectric material
hot pressing
Bi_2Te_3
shear strength
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分类号
TN304
[电子电信—物理电子学]
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