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利用衰变产物间接测量快中子活化截面的研究
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作者 邱奕嘉 刘通 +2 位作者 占许文 兰长林 孔祥忠 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第10期1729-1734,共6页
在采用活化法以及离线γ谱技术测量238 U和232 Th的(n,γ)快中子反应截面的过程中,需使用反应生成核的一次β衰变产物的活度间接定量反应生成核的活度,从而反推得到截面。本文将对原有公式进行修正,并作详细推导。同时,基于修正公式,对... 在采用活化法以及离线γ谱技术测量238 U和232 Th的(n,γ)快中子反应截面的过程中,需使用反应生成核的一次β衰变产物的活度间接定量反应生成核的活度,从而反推得到截面。本文将对原有公式进行修正,并作详细推导。同时,基于修正公式,对这一方法进行分析讨论,以说明该方法的可行性以及在使用过程中存在的问题。 展开更多
关键词 活化法 间接测量 修正公式
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