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1E级设备γ辐照鉴定技术研究
被引量：
3
1
作者
刘吉珍
龚随军
+6 位作者
王旭
洪永侠
程瑛
漆明森
陈嘉浪
刘献忠
许荩
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期560-566,共7页
本文介绍了沉箱式堆照钴靶辐照装置及核级设备辐照试验的剂量特性要求。采用建立辐射场空间剂量率计算模型、编制计算程序的方法,对堆照钴靶辐射场装载方案进行了设计;采用化学剂量计多点测量的方法,测定了装载后辐射场的剂量率分布;通...
本文介绍了沉箱式堆照钴靶辐照装置及核级设备辐照试验的剂量特性要求。采用建立辐射场空间剂量率计算模型、编制计算程序的方法,对堆照钴靶辐射场装载方案进行了设计;采用化学剂量计多点测量的方法,测定了装载后辐射场的剂量率分布;通过对辐射场空间分布特性的分析,确定了辐照样品的摆放位置及其对应的辐照剂量率;最后给出了总辐照剂量的主要影响因素及评估方法。结果表明,在辐照装置的全尺寸空间范围内,剂量率分布均在0.14-0.42Gy·s^-1范围内,且最大有效辐照空间可达1 200mm×1 200mm×1 000mm,各项指标均满足1E级设备辐照鉴定试验的要求。
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关键词
堆照钴靶辐射场
1E级设备
辐照鉴定试验
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职称材料
基于扫描电镜和能谱仪的薄膜表面形貌和厚度同时测量研究
被引量：
4
2
作者
任飞旭
曲国峰
+8 位作者
张鑫
韩纪锋
宋瑞强
刘星泉
陈蕾
颜筱宇
张艺蓉
冷强钟
刘吉珍
《分析科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第3期355-360,共6页
扫描电子显微镜通过电子束轰击样品产生的二次电子、背散射电子等实现对样品表面形貌的观测,通过对样品横断面的观测来获得薄膜厚度信息,但难以实现对薄膜表面形貌和厚度的同时观测。通过能谱仪研究各种厚度的薄膜同其激发的特征X射线...
扫描电子显微镜通过电子束轰击样品产生的二次电子、背散射电子等实现对样品表面形貌的观测,通过对样品横断面的观测来获得薄膜厚度信息,但难以实现对薄膜表面形貌和厚度的同时观测。通过能谱仪研究各种厚度的薄膜同其激发的特征X射线计数率之间的关系,实现了通过特征X射线计数率来测量薄膜厚度的方法。对于激光吹气系统所需的钨薄膜而言,结果表明,计数率随薄膜厚度的增加先线性增加后趋于稳定,利用该曲线的直线部分作为刻度曲线,可实现对5~19μm范围内钨薄膜表面形貌和厚度的同时测量,精度约为10%,通过增加电子能量可实现对更厚样品的测量。该方法可推广到其他种类的薄膜研究,有助于推动薄膜物理研究的开展。
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关键词
扫描电子显微镜
X射线能谱仪
薄膜厚度
特征X射线
标准样品法
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职称材料
题名
1E级设备γ辐照鉴定技术研究
被引量：
3
1
作者
刘吉珍
龚随军
王旭
洪永侠
程瑛
漆明森
陈嘉浪
刘献忠
许荩
机构
中国核动力研究设计院
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期560-566,共7页
文摘
本文介绍了沉箱式堆照钴靶辐照装置及核级设备辐照试验的剂量特性要求。采用建立辐射场空间剂量率计算模型、编制计算程序的方法,对堆照钴靶辐射场装载方案进行了设计;采用化学剂量计多点测量的方法,测定了装载后辐射场的剂量率分布;通过对辐射场空间分布特性的分析,确定了辐照样品的摆放位置及其对应的辐照剂量率;最后给出了总辐照剂量的主要影响因素及评估方法。结果表明,在辐照装置的全尺寸空间范围内,剂量率分布均在0.14-0.42Gy·s^-1范围内,且最大有效辐照空间可达1 200mm×1 200mm×1 000mm,各项指标均满足1E级设备辐照鉴定试验的要求。
关键词
堆照钴靶辐射场
1E级设备
辐照鉴定试验
Keywords
reactor irradiated cobalt target radiation field
1E grade equipment
irradia-tion identification test
分类号
TL99 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
基于扫描电镜和能谱仪的薄膜表面形貌和厚度同时测量研究
被引量：
4
2
作者
任飞旭
曲国峰
张鑫
韩纪锋
宋瑞强
刘星泉
陈蕾
颜筱宇
张艺蓉
冷强钟
刘吉珍
机构
四川大学原子核科学技术研究所
美因茨约翰内斯-古腾堡大学赫姆霍兹研究所
中国核动力研究设计院
出处
《分析科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第3期355-360,共6页
基金
四川省科技计划项目(2020YJ0313),中央高校基本科研业务费。
文摘
扫描电子显微镜通过电子束轰击样品产生的二次电子、背散射电子等实现对样品表面形貌的观测,通过对样品横断面的观测来获得薄膜厚度信息,但难以实现对薄膜表面形貌和厚度的同时观测。通过能谱仪研究各种厚度的薄膜同其激发的特征X射线计数率之间的关系,实现了通过特征X射线计数率来测量薄膜厚度的方法。对于激光吹气系统所需的钨薄膜而言,结果表明,计数率随薄膜厚度的增加先线性增加后趋于稳定,利用该曲线的直线部分作为刻度曲线,可实现对5~19μm范围内钨薄膜表面形貌和厚度的同时测量,精度约为10%,通过增加电子能量可实现对更厚样品的测量。该方法可推广到其他种类的薄膜研究,有助于推动薄膜物理研究的开展。
关键词
扫描电子显微镜
X射线能谱仪
薄膜厚度
特征X射线
标准样品法
Keywords
Scanning electron microscope
X-ray energy dispersive spectrometer
Film thickness
Characteristic X-ray
Standard sample method
分类号
O657 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
1E级设备γ辐照鉴定技术研究
刘吉珍
龚随军
王旭
洪永侠
程瑛
漆明森
陈嘉浪
刘献忠
许荩
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基于扫描电镜和能谱仪的薄膜表面形貌和厚度同时测量研究
任飞旭
曲国峰
张鑫
韩纪锋
宋瑞强
刘星泉
陈蕾
颜筱宇
张艺蓉
冷强钟
刘吉珍
《分析科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023
4
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