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低能电子轰击引起氧化铝钝化膜BCMOS传感器暗电流变化研究 被引量:1
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作者 闫磊 石峰 +7 位作者 程宏昌 焦岗成 杨晔 肖超 樊海波 郑舟 董海晨 何惠洋 《红外技术》 CSCD 北大核心 2024年第3期342-346,共5页
针对低能电子(电子能量为300~1500 eV)轰击引起氧化铝钝化层BCMOS(Back-thinned Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,BCMOS)图像传感器暗电流增加问题,设计了电子轰击BCMOS图像传感器实验,经统计发现,对于厚度为10 nm的氧化铝钝化... 针对低能电子(电子能量为300~1500 eV)轰击引起氧化铝钝化层BCMOS(Back-thinned Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,BCMOS)图像传感器暗电流增加问题,设计了电子轰击BCMOS图像传感器实验,经统计发现,对于厚度为10 nm的氧化铝钝化层BCMOS图像传感器,轰击能量大于600 eV时暗电流增加速率明显;轰击电子能量不超过1.5 keV时,暗电流存在最大值,约为12000 e-/pixel/s;电子轰击后的BCMOS图像传感器在电子干燥柜中静置时,其暗电流呈指数趋势下降。通过分析指出入射电子引起氧化铝钝化层与硅界面处缺陷态增加,是引起上述现象的主要原因。 展开更多
关键词 暗电流 电子轰击 背减薄CMOS 氧化铝钝化层
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偏振暗通道融合去雾方法
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作者 朱思睿 王霞 +2 位作者 焦岗成 何惠洋 张鑫 《红外与激光工程》 CSCD 北大核心 2024年第12期176-184,共9页
雾霾天气下,受粒子散射影响,传统相机采集图像模糊失真。偏振成像作为一种新型光电成像技术,能够利用偏振信息提取目标形状、纹理等细节信息,在去雾领域广受关注。现有的偏振去雾算法大多需要提取天空区域,提取过程复杂也易引入伪影,且... 雾霾天气下,受粒子散射影响,传统相机采集图像模糊失真。偏振成像作为一种新型光电成像技术,能够利用偏振信息提取目标形状、纹理等细节信息,在去雾领域广受关注。现有的偏振去雾算法大多需要提取天空区域,提取过程复杂也易引入伪影,且计算出的偏振度与偏振角图像受微粒散射效应影响,信息损失严重。针对上述问题,提出了一种基于偏振暗通道的融合去雾方法。通过计算偏振暗通道估计大气光与透过率函数,结合雾霾成像模型对图像进行恢复,并使用全局自适应灰度映射方法恢复去散射后的亮度损失。同时针对图像细节模糊问题,引入局部直方图均衡化方法对强度图像对比度进行提升,最后,使用小波融合综合提取两种方法的优势,对高频分量采用局部显著性融合,低频分量采用加权平均值融合。基于雾天偏振图像的处理结果表明,文中方法去雾效果与现有几种去雾方法相比,几项图像评价指标均具有显著提升,其中平均梯度(AG)提升了2.23,信息熵(Entropy)提升了0.12。从主观效果可以看出,文中所提出的融合去雾方法可以更好地去除雾霾散射影响,从而获得质量较高且细节保留较好的去雾图像。 展开更多
关键词 图像去雾 偏振去雾 暗通道先验 图像融合 灰度映射
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