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X射线荧光熔片法测定人造富矿中主要成分的新方法
被引量：
2
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作者
任校丹
刘磊
《科学技术与工程》
2006年第18期2964-2966,共3页
利用PANalyticalAxios(PW4400)仪器的优越性,对人造富矿中主要成分进行了测定,给出了元素的干扰和基体效应校正系数,分析数据准确可靠。
关键词
X荧光光谱法
人造富矿
干扰
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题名
X射线荧光熔片法测定人造富矿中主要成分的新方法
被引量：
2
1
作者
任校丹
刘磊
机构
济南钢铁集团总公司技术监督处
出处
《科学技术与工程》
2006年第18期2964-2966,共3页
文摘
利用PANalyticalAxios(PW4400)仪器的优越性,对人造富矿中主要成分进行了测定,给出了元素的干扰和基体效应校正系数,分析数据准确可靠。
关键词
X荧光光谱法
人造富矿
干扰
Keywords
X-ray fluorescence spectrum synthetic ore ovedappa
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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作者
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1
X射线荧光熔片法测定人造富矿中主要成分的新方法
任校丹
刘磊
《科学技术与工程》
2006
2
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