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中测引起误测的原因分析及预防

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摘要针对中测过程中的误测问题,分析了引起误测的各种原因:测试设备的因素、环境因素、测试人员的因素以及前面3种因素的混合。结合具体的误测现象提出相应的解决方法,大大减少了中测过程中的误测问题。

作者刘子晶须文波

机构地区江南大学信息工程学院无锡华润华晶微电子有限公司

出处《四川兵工学报》 CAS 2010年第5期86-88,92,共4页 Journal of Sichuan Ordnance

关键词晶圆测试针迹偏移误测

分类号 TN307 [电子电信—物理电子学]

作者简介刘子晶（1984-），男，硕士，主要从事微电子与计算机技术研究。

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四川兵工学报

2010年第5期

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